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亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統（O-PTIR）

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亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統（O-PTIR）

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項目介紹

亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統是一種多模態顯微分析平臺，通過整合紅外光譜（IR）、拉曼光譜和熒光光譜技術，在亞微米尺度（<1 μm）實現樣品的化學、結構和功能表征。其核心原理是利用近場光學技術（如s-SNOM或O-PTIR）突破紅外衍射極限，結合共聚焦拉曼顯微（~300 nm）和超分辨熒光成像（如STED/PALM，分辨率<50 nm），同步或交替獲取分子振動信息（IR/Raman）與特定分子分布（熒光）。系統通過共享光學路徑、時序分離激發和光譜濾波解決信號串擾，最終將多模態數據空間配準，提供官能團分布、分子結構及生物標記物的共定位分析，廣泛應用于材料、生物及納米科技領域。

樣品要求

1、常規樣品要求：待測無特征尺寸＞500nm，厚度＞500nm，無毒，無有機揮發物質

2、樣品表面平整度要求：單點采譜對平整度無要求，單波數成像一般小于5μm最佳；

其他具體要求可具體溝通

項目案例

半導體失效以及污染測試實例

O-PTIR檢測玻璃基板（TGV型）上的粘合劑殘留

微電子器件截面污染物

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學術文章

亞微米分辨紅外-拉曼-熒光聯用系統（O-PTIR）

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