国产主播欧美精品,在线视频cao,中文字幕免费一区二区,日韩三级影视

    預(yù)存
    {{couponData.name}} ￥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ￥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}}
    {{timeH}}:{{timeM}}:{{timeS}}

    {{couponData.name}} ￥{{Math.floor(couponData.money)}} {{couponData.discount}}折 ￥{{couponData.random_min_money | int}}~{{couponData.random_max_money|int}} （{{couponData.min_amount==1?'無門檻':'滿'+Math.floor(couponData.min_amount)+'可用'}}）

    距失效

    {{timeH}}

    時(shí)

    {{timeM}}

    分

    {{timeS}}

    秒

    Document

    當(dāng)前位置：材料測試 ?  材料加工 ? 

    聚焦離子束（FIB）

    99.2%

    滿意度

    聚焦離子束（FIB）

    已 預(yù) 約：

    11558次

    服務(wù)周期：

    平均7個(gè)工作日完成

    關(guān)聯(lián)搜索：

    立即下單
    咨詢價(jià)格

    收藏

    如有各類設(shè)備采購需求，請(qǐng)聯(lián)系專屬顧問。

    王飛

    FIB測試工程師

    擁有8年掃描電鏡測試經(jīng)驗(yàn)。擅長聚焦離子束（FIB）技術(shù)，精于利用FIB進(jìn)行高精度材料切割、表面刻蝕及納米級(jí)樣品制備。

    項(xiàng)目介紹

    聚焦離子束（focused ion beam, FIB）技術(shù)是在電場和磁場的作用下，將離子束聚焦到亞微米甚至納米量級(jí)，通過偏轉(zhuǎn)和加速系統(tǒng)控制離子束掃描運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)微納圖形的監(jiān)測分析和微納結(jié)構(gòu)的無掩模加工。

    可提供的服務(wù)：

    1. TEM透射樣品制備：針對(duì)表面薄膜、涂層、粉末大顆粒、塊體等樣品，在指定位置準(zhǔn)確定位切割制備TEM樣品；

    2. SEM/EDS剖面分析：FIB準(zhǔn)確定位切割，制備截面樣品，進(jìn)行SEM和EDS能譜分析；

    3. 微納結(jié)構(gòu)加工：在微納結(jié)構(gòu)操作機(jī)械手、Omniprobe操作探針、離子束切割等的配合下，進(jìn)行各種微納結(jié)構(gòu)的搬運(yùn)，以及各種顯微結(jié)構(gòu)形狀或圖案的加工。

    樣品要求

    1. 粉末樣品：樣品尺寸至少為5μm以上，且無磁性；

    2. 薄膜/塊體樣品：最大尺寸不超過2cm，高度不超過3mm，可以有磁性，但強(qiáng)磁樣品應(yīng)盡可能減小尺寸；

    3. 在送樣前，請(qǐng)通過掃描電子顯微鏡（SEM）確認(rèn)樣品滿足FIB制樣的要求；

    4. 按照樣品個(gè)數(shù)計(jì)費(fèi)，加工成品大小一般不超過長度 5μm*深度 5μm；如果樣品需要加工更大尺寸，請(qǐng)?jiān)谙聠吻奥?lián)系技術(shù)經(jīng)理進(jìn)行評(píng)估和議價(jià)；

    5. 樣品應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性，如果導(dǎo)電性比較差，需要進(jìn)行噴金或噴碳處理。

    項(xiàng)目案例

    TEM制備多相和薄膜的TEM樣品

    電池正極材料的FIB截面的SEM及能譜表征

    FIB加工測試狗logo

    FIB三維重構(gòu)圖像

    常見問題
    1、FIB可以做什么？

    （1）FIB-SEM：FIB制備微納米級(jí)樣品截面，進(jìn)行SEM和能譜測試。感興趣區(qū)域尺度要求200nm-30μm，通常切樣面寬度不超過10μm。

    （2）FIB-TEM：FIB制備滿足透射電鏡的 TEM截面樣品。樣品包括：薄膜、塊體樣品，微米級(jí)顆粒。樣品種類：陶瓷、金屬等。

    2、FIB制樣可能引入的雜質(zhì)？

    W、C、Pt和Ga，其中W、C和Pt是為了保護(hù)減薄區(qū)域，Ga是離子源。如果樣品不導(dǎo)電可能噴Au或者噴Pt，從而引入這兩種元素。

    3、FIB樣品為什么需要導(dǎo)電？

    樣品是在SEM電鏡下進(jìn)行操作，需要清晰地觀察到樣品的形貌，否則無法精準(zhǔn)制樣。

    4、FIB-TEM的制樣流程是 ?

    (1）找到目標(biāo)位置（定位非常重要），表面噴Pt、W或C進(jìn)行保護(hù)目標(biāo)區(qū)域； 

    (2）將目標(biāo)位置前后兩側(cè)的樣品挖空，剩下目標(biāo)區(qū)域后進(jìn)行U-cut；

    (3）通過納米機(jī)械手將這個(gè)薄片取出，將樣品焊到銅網(wǎng)上的樣品柱上；

    (4）減薄到理想厚度后停止。

    聚焦離子束（FIB）

    立即下單
    主站蜘蛛池模板： 枣强县| 胶南市| 青冈县| 四子王旗| 双流县| 临江市| 葫芦岛市| 齐齐哈尔市| 尚义县| 灵台县| 灌阳县| 大英县| 岱山县| 于都县| 峨山| 威远县| 正定县| 高州市| 将乐县| 潞西市| 当涂县| 奉节县| 大兴区| 梅河口市| 会同县| 宝鸡市| 巴林右旗| 偃师市| 仪陇县| 康平县| 汪清县| 永嘉县| 依安县| 佛学| 双鸭山市| 栾城县| 靖西县| 济阳县| 珲春市| 莫力| 河源市|
    +

    你好，很高興為您服務(wù)！

    發(fā)送