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項目介紹

X光電子能譜法是一種表面分析方法，提供的是樣品表面的元素含量與形態，一般，其信息深度約為10nm以內。如果輔以離子刻蝕手段，再利用XPS作為分析方法，則可以實現對樣品的深度分析。

樣品要求

1.預處理尺寸要求：塊狀/片狀/薄膜：長寬厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（特殊大尺寸xps最高厚度不超過25mm，磁性樣品盡量小）（對塊狀樣品或薄膜樣品的測試面做好標記）；粉末樣品大于200目，不少于10mg，量少請用稱量紙包好再裝到管子里寄送。請勿用手觸摸樣品表面，會引入污染。制好樣后請盡快密封，避免其他物質污染；

2.送樣前樣品需充分干燥，否則影響儀器真空度。高分子樣品在送樣前應進行干燥處理。若含有高揮發性分子等請務必烘烤；

3.樣品含有硫或碘等鹵族元素請務必填寫或者提前告知，避免污染高真空系統；

4.樣品在超高真空及在X射線、紫外線、電子束或Ar離子束照射下應穩定，不分解、不釋放氣體。

項目案例

XPS全譜

XPS高分辨分譜

不同碳化溫度下鈷/碳納米纖維復合材料的 XPS 全譜

Co /CNF-700 的 Co 2p 高分辨圖譜

常見問題
1、Mg靶與Al靶的區別？

能量不同，分辨率不同，Mg靶分辨率高，Al靶能量高。

2、XPS是否任何元素都可以測？

除H和He以外的元素。

3、XPS表征的是樣品的表面還是體相？

表面10nm以內。

4、XPS中，價帶譜是什么？

計算價帶位置，及能帶中電子態密度隨能量的分部，

原位XPS（In-Situ XPS）

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