紫外可見漫反射光譜的基本原理與應用
紫外可見近紅外光譜是指物質中的分子或基團,吸收了入射的紫外可見光能量,產生具有特征性的帶狀光譜,是研究物質分子對光吸收的相對強度的方法。
可用來表征化合物中價電子的躍遷,進而輔助確定化合物的結構與性質。
既可定性分析(主要分析分子中含有的官能團),也可定量分析;無機、有機化合物均可分析。
1. 粉末樣品不少于100 mg,樣品量少的時候會摻入硫酸鋇壓片后測試(硫酸鋇作為空白,用于扣背底),因此不建議回收;
2. 薄膜/塊體樣品尺寸在1*1 cm左右,請務必注明測試面;
3. 液體樣品10~15 mL,溶劑無毒、無刺激性氣味(非水溶劑請自備空白溶劑,用于扣背底),需要告知濃度;
4. 類似基底上帶膜的塊體樣品,想要扣除基底的影響,需要準備2塊空白基底;
5. 紫外測試的反射率都是相對反射率,即相對一個標準樣品的反射率:R’∞ = R∞(樣品)/ R∞(參比物),參比物質多用聚四氟乙烯標準品或BaSO4白板。
紫外可見吸收光譜
近紅外光譜
紫外可見漫反射光譜
近紅外漫反射光譜
注明Y軸的數據模式。
A(吸光度)、R(反射率)、T(透過率)。
紫外可見近紅外光譜(UV/VIS/NIR)