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項目介紹

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）：是一種可以用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小針尖，使之與樣品表面輕輕接觸。由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，會使懸臂發生微小的偏轉。通過檢測出偏轉量并作用反饋控制其排斥力的恒定，就可以獲得微懸臂對應于各點的位置變化，從而獲得樣品表面形貌的圖像。

樣品要求

1. 薄膜樣品，尺寸不大于2*2cm（請備注好測試面）；

2. 粉末樣品，質量不少于5mg；

3. 液體樣品，體積不小于1ml（濃度不確定，可以加送溶劑空白樣，進行測試前稀釋）；

4. 測試溫度：室溫~250°C。

項目案例

常見問題

1、AFM測試范圍最好小于多少？一般能測多大?

答：小于80×80μm；能測10×10μm、20×20μm、50×50μm。

2、AFM粉末樣品制樣的常用基底有哪些？

答：常用基底有3種：HOPG（高定向石墨），MICA（云母），Si-chip（硅片）。HOPG的優點是導電，主要用于導電樣品的測試。MICA和Si-chip都是常用基底，主要是提供一個平面，可以根據參考文獻或之前的測試條件來選取。

3、為什么AFM測試中，樣品表面粗糙度不能太大？