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【動(dòng)圖秒懂】四大顯微設(shè)備SEM、TEM、AFM、STM工作原理，看圖說話
來源：本站 時(shí)間：2019-12-29 19:28:45 瀏覽：15169次

四大顯微設(shè)備：SEM、TEM、AFM、STM，相信大家并不陌生，特別是學(xué)材料的小伙伴們。

那它們的工作原理呢？

嗯。。。

這個(gè)。。。

可能還不太清楚。。。

下面，跟大家分享一些超棒的動(dòng)畫和圖片，有趣的表達(dá)方式，讓您輕松了解它們的工作原理，跟枯燥乏味的各種分析說拜拜啦！


01
掃描電子顯微鏡（SEM）

SEM是利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來的各種物理信號(hào)來調(diào)制成像的。


SEM是采用逐點(diǎn)成像的方法，把樣品表面不同的特征，按順序和比例轉(zhuǎn)化為圖像，如二次電子像


背散射電子像等

掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是：

（1）有較高的放大倍數(shù)；

（2）有很大的景深，視野大，成像富有立體感

（3）試樣制備簡(jiǎn)單。 

實(shí)例圖片：


02
透射電子顯微鏡（TEM）

TEM是聚焦電子束投射到非常薄的樣品上，透過樣品的透射電子束或衍射電子束所形成的圖像來分析樣品內(nèi)部的微觀組織結(jié)構(gòu)。




TEM常用于研究納米材料的結(jié)晶情況，觀察納米粒子的形貌、分散情況及測(cè)量和評(píng)估納米粒子的粒徑。

實(shí)例圖片：


03
掃描隧道顯微鏡（STM）

STM是一種利用量子理論中的隧道效應(yīng)探測(cè)物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的儀器。一根攜帶小小的電荷的探針慢慢地通過材料，一股電流從探針流出，通過整個(gè)材料，到底層表面。當(dāng)探針通過單個(gè)的原子，通過流過探針的電流量波動(dòng)，得到圖片。





實(shí)例圖片：


04
原子力顯微鏡（AFM）

 AFM通過檢測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的針尖接近樣品，通過其相互作用，使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。利用傳感器檢測(cè)這些變化來獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。

AFM分為接觸式、非接觸式和輕敲式。


 原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)：

（1）AFM提供真正的三維表面圖。

（2）不會(huì)對(duì)樣品造成傷害。

（3）更為廣泛的適用性。

 實(shí)例圖片：



聲明：本文僅作學(xué)術(shù)分享之用，若涉及侵權(quán)等行為，請(qǐng)先與GO三思（kf01@ceshigo.com）聯(lián)系，萬分感謝！




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