當(dāng)前位置:材料測(cè)試 ? 結(jié)構(gòu)分析 ?
高分辨XRD(HRXRD)
滿(mǎn)意度
高分辨XRD(HRXRD)
已 預(yù) 約:
服務(wù)周期:
關(guān)聯(lián)搜索:
收藏
XRD是一種無(wú)損的研究材料結(jié)構(gòu)的方法,HRXRD適合單晶或者外延膜等取向非常好的材料結(jié)構(gòu)研究。
高分辨X射線(xiàn)衍射儀是半導(dǎo)體材料表征的標(biāo)準(zhǔn)裝備,常用于材料科學(xué)和納米技術(shù)、半導(dǎo)體材料和器件等的研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制。
儀器適用于各種薄膜樣品的測(cè)試應(yīng)用,尤其適合外延薄膜和單晶晶圓的結(jié)構(gòu)分析和表征。具體可以測(cè)試的內(nèi)容如下(不限于):
1. 搖擺曲線(xiàn)分析(omega-2theta, rocking curve)
2. 倒易空間圖(Reciprocal Space Mapping)
3. 外延關(guān)系判定(Phi-scan)
4. 反射率(XRR)
5. 掠入射表面深度分析(GIXRD)
6. 透射X射線(xiàn)衍射
7. 殘余應(yīng)力(Residual stress)
8. 織構(gòu)分析(texture)
9. 粉末和塊材物相鑒定(Phase analysis)
10. 小角X射線(xiàn)衍射(Small angle XRD)
涉及樣品種類(lèi)包括(不限于)半導(dǎo)體晶圓、單晶、薄膜、藥品、金屬、納米材料、有機(jī)材料、礦石等。
樣品尺寸要求:厚度小于3mm ,長(zhǎng)寬1x1mm2以上,不同尺寸價(jià)格不同,長(zhǎng)寬4x4mm2以上不需要加價(jià)。
高分辨XRD(HRXRD)