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輝光放電質譜儀（GD-MS）

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輝光放電質譜儀（GD-MS）

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項目介紹

輝光放電質譜（glow discharge mass spectrometry），簡稱GDMS，是利用輝光放電源作為離子源與質譜儀聯接進行質譜測定的一種分析方法。

將輝光放電離子源和高分辨率質譜儀結合，主要應用于高純度無機固體材料的成分分析，可以一次掃描即可測量從鋰（Li）到鈾（U）之間所有元素成分。

樣品要求

1. 固體：塊狀最小尺寸不小于3 x 3 mm，最大不超過50 x 50 x 50mm，建議為25 x 25 x 5mm或相近尺寸；表面平整光滑，相當于用1000目的砂紙磨過的平整度；

2. 粉末：需根據具體樣品判斷用量，樣品盡量多（10g），粒度盡量小，能壓制成片狀，且滿足塊體樣品的尺寸要求；

3. 針狀樣品：2mm x 2mm x 22mm的針狀樣品；

4. 樣品純度最好是3N~8N之間；

5. GD-MS是一種微型破壞性測試，濺射直徑8mm，；

6. 濺射深度一般為幾微米到幾十微米，納米級薄膜材料測試有風險。

項目案例

GD-OES濺射深度譜

GD-MS元素分析

常見問題
1、材料的純度要求是多少？

最高可以測試到8N，純度過低（例如2N）數據會相對不準確，純度超過8N，所有數據結果以檢出限形式體現。  相對適合的純度測試范圍是2N-8N。

2、濺射直徑是多大？

GD-MS是一種微型破壞性測試，濺射直徑8mm。

3、可以檢測的深度可以達到多大？

濺射深度與測試參數、時間相關，一般為幾微米到幾十微米。 幾百nm的薄膜需要看是什么材料，不一定能測。

4、檢測的元素范圍是Li-U嗎？是半定量分析嗎？

是的，全元素一共74種元素，不包括惰性元素、CNOH氣體元素、放射性元素等不穩定元素。輝光放電質譜：可得到元素半定量數據

輝光放電質譜儀（GD-MS）

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