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    表面光電壓譜儀(SPV)

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    表面光電壓譜儀(SPV)

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    項目介紹

    表面光電壓法(surface photovoltage method),簡稱SPV法,是通過測量由于光照在半導體材料表面產生的表面電壓來獲得少數載流子擴散長度的方法。原理是: 用能量大于半導體材料禁帶寬度的單色光照射在半導體材料表面,在其內部產生電子-空穴對,受濃度梯度驅動擴散至半導體材料近表面空間電荷區的電子和空穴將被自建電場分離,形成光生電壓,即表面光電壓。

    根據表面光電壓與入射單色光的光子流密度、波長、材料對光的吸收系數和少子擴散長度之間的關系可得到少子擴散長度,進而可以獲得少子壽命。SPV法是表征半導體材料少子擴散長度的主要方法,其優點有:

    1.一種穩態方法,與時間無關,從而避免了體內和表面復合對測試結果的影響;

    2.一般情況下,表面復合過程不影響少子擴散長度的測試結果,表面復合速率只對表面光電壓信號強度產生影響,因而無須特殊處理材料的表面;

    3.一種無接觸的測試方法,其測試成本低、易于操作、不容易受到干擾,而且可以實施面掃描(mapping)。

    樣品要求

    1.粉末材料需研磨成細小顆粒。(粉末樣品裝在玻璃瓶或塑料管中,請勿放在樣品袋中,以避免靜電影響取樣)用量:堆積體積不少于0.3ml

    2.薄膜材料要求有一定厚度面積最好為20mm*5mm~~40mm*15mm,類似于電化學工作電極需要預留出一段空白導電玻璃。

    3. 半導體以及晶體測試需要提前引出陰陽極接頭。(薄膜,半導體、晶體只能測試表面光電壓

    4.穩態測試告知掃描速度及測試范圍,大致激發波長;

    5.瞬態告知激發波長和大致激發強度。

    項目案例

    表面光電壓譜儀(SPV)

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