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未知成分分析Zeta電位的基本理論、測(cè)試方法和應(yīng)用
1.引言 在納米科學(xué)領(lǐng)域，Zeta電位是一個(gè)非常重要的概念，它是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的...
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固體/薄膜表面ZETA電位儀
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項(xiàng)目介紹
固體/薄膜 zate 電位測(cè)試，基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流測(cè)量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta 電位。它可以提供有關(guān)表面電荷和相關(guān)性質(zhì)的信息，并可檢測(cè)表面性質(zhì)中 zei 微小的變化
樣品要求
1.樣品尺寸需為10mm*20mm的矩形且厚度不超過(guò)3mm，需提供兩片；
2.如需測(cè)試不同pH下的zeta電位，pH可設(shè)置范圍為3-10；
3.樣品需能承受300mbar的沖擊壓力；
4.同一樣品，測(cè)試n個(gè)pH下的結(jié)果，費(fèi)用=320+100*（n-1）。
項(xiàng)目案例
常見(jiàn)問(wèn)題
1、固體ZETA電位測(cè)試送樣有什么要求？
答：樣品需要能承受300mbar的沖擊壓力，且一次測(cè)試需要兩片樣品，需要在表面形成液體環(huán)境（如織物類會(huì)吸收緩沖液，無(wú)法測(cè)試）。
固體/薄膜表面ZETA電位儀
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