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掃描電化學顯微鏡（SECM）

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掃描電化學顯微鏡（SECM）

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項目介紹

掃描電化學顯微鏡（SECM）是一種基于電化學原理工作的顯微鏡技術。它可以測量微區內物質的氧化或還原反應所產生的電化學電流。SECM技術利用一個非常小的電極（探針）在樣品附近進行掃描，這個樣品可以是導體、絕緣體或半導體，從而獲得對應的微區電化學和相關信息。SECM的最高分辨率可以達到幾十納米。

SECM的工作原理是在探針上施加電位，使其發生還原反應。當探針靠近導電基底時，基底的產物可以擴散回探針表面，使探針電流增大。探針離樣品越近，電流就越大，這個過程被稱為正反饋。而當探針靠近絕緣基底表面時，探針電流會減小，這是因為本體溶液中的電活性物質向探針的擴散受到基底的阻礙。這個過程被稱為負反饋。SECM通常采用電流法進行工作，也可以采用恒電流狀態，即恒定探針電流，檢測探針在垂直方向上的位置變化以實現成像過程。這項技術不僅能夠提供高分辨率的形貌圖像，還能揭示樣品的電化學活性，因此在材料科學、生物學和腐蝕科學等領域有著廣泛的應用

樣品要求


1.樣品要求：表面平/拋光，外徑32mm，厚度10-20mm，導線長度10-20cm。

2.可提供的測試模式：SECM、LEIS、SVET。

3.需要自備所需電解液。

項目案例

相同區域在電解液中不同的暴露時間后，所得的不同時間 的SVET圖像

SECM 研究7075AI表面涂層在不同的酸度下耐蝕機理，掃描相同區域，在 不同的pH值 3(左)pH8(右)和pH 6.85(中間)下(電解液為0.1M磷酸緩沖溶液)

常見問題
1、一般三電極體系是什么？

對電極、參比電極、工作電。

2、電化學測試中注意的是什么？

電極制備、參數設置、樣品材料循環穩定性。

3、電化學中DPV全稱是？

差示脈沖伏安法。

掃描電化學顯微鏡（SECM）

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