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探索物鏡球差透射電鏡（AC-TEM）如何實現(xiàn)高分辨率成像

來源：時間：2023-11-29 10:13:14 瀏覽：2984次

探索物鏡球差透射（AC-TEM）如何實現(xiàn)高分辨率成像

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡稱TEM）作為一種重要的納米級成像分析儀器，在我國材料科學、物理學、基礎醫(yī)學和化學工程等領域發(fā)揮著舉足輕重的作用；然而，傳統(tǒng)TEM在分辨率方面存在一定的局限性，尤其是在觀察納米材料和生命細胞等具有復雜結構的樣本時；物鏡球差透射（AC-TEM）作為一種新型的透射電鏡技術，通過球差校正裝置提高成像分辨率，使得觀察納米尺度樣本成為可能。

一、原理

球差是一種透鏡像差，是影響TEM分辨率的重要因素之一。球差的存在使得電子透射成像時，物鏡透鏡和聚光鏡無法將電子聚焦到一個點上，從而降低成像質(zhì)量；AC-TEM技術通過引入球差校正裝置，充當凹透鏡的角色，對球差進行校正；在物鏡位置安裝球差校正器，根據(jù)樣品特性調(diào)整校正器的參數(shù)，使得電子束在通過樣品時能夠更加聚焦，從而提高成像分辨率。

二、分類

根據(jù)使用模式的不同，AC-TEM可分為AC-TEM和AC-STEM。

AC-TEM主要應用于圖像模式，此時影響成像分辨率的主要因素是物鏡的球差；球差校正裝置安裝在物鏡位置，通過調(diào)整校正器的參數(shù)，實現(xiàn)高分辨率成像。AC-STEM則應用于STEM（掃描透射電子顯微鏡）模式，此時影響分辨率的主要因素是聚光鏡的球差；球差校正裝置會安裝在聚光鏡位置，同樣通過調(diào)整校正器的參數(shù)，提高成像分辨率。此外，還有雙球差校正器TEM，即在同一臺TEM中同時安裝聚光鏡和物鏡的球差校正器，以進一步提高成像質(zhì)量。

三、AC-TEM在高分辨率成像中的應用

AC-TEM技術在納米材料、生命細胞、半導體器件等領域的成像分析中取得了顯著成果。例如，在納米材料研究方面，AC-TEM可以清晰地觀察到納米線的直徑、晶體結構和形貌，為納米材料的制備和應用提供了重要信息；在生命科學研究中，AC-TEM可以實現(xiàn)對細胞器和細胞結構的實時成像，為生物學研究提供了有力支持；此外，在半導體器件制造過程中，AC-TEM技術可以對薄膜材料、納米結構等進行高分辨率觀察，為工藝優(yōu)化和缺陷檢測提供了重要依據(jù)。

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