小角X射線散射儀是一種用于物理學、化學領域的分析儀器,用于分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子(或固體物質中的超細空穴)的大小、形狀及分布。對于高分子材料,可測量高分子粒子或空隙大小和形狀、共混的高聚物相結構分析、長周期、支鏈度、分子鏈長度的分析及玻璃化轉變溫度的測量。
小角X射線散射SAXS檢測樣品要求:
1.粉末樣品最好提供10mg以上,無明顯顆粒感。
2.液體樣品濃度要求10mg/mL,體積3mL以上,無沉淀,需提供背景樣品。
3.塊體樣品最佳厚度為幾微米到幾十微米,纖維樣品梳理整齊,盡量保持伸直狀態。
4.拉伸樣品要求啞鈴型樣條,樣條窄處寬3mm,長18mm,樣條總長度30 mm,兩端寬部位分別長6mm,厚度小于1mm,最大拉伸力200N。
5.GI-SAXS或GI-WAXS的樣品一般都是做在硅片(比FTO玻璃反射效果好)上,厚度在200nm左右,厚到1微米會影響信號。尺寸1x1cm大小(超過的事先說明)。
6.水凝膠樣品的要求,如果樣品可成形,尺寸需為1*1cm大小,1mm厚;如果不成形,需2mL。
7.普通saxs膜樣:10*5mm,膜厚越接近1mm越好。
總結:
如果要從小角X射線散射對樣品的要求較高,被X射線照射的地方會產生散射,而測量的過程是一個積分過程。對單分散體系的小角散射測量而言,不僅對樣品純度要求高(>95%),還在濃度、緩沖液成分以及樣品量上有具體的要求。
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