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未知成分分析“XRD精修大禮包”來啦~你所需要的都在這里，助你分析不求人！
來源：測試GO
時間：2020-11-30 16:28:06
瀏覽：6652次
材料的性質與其晶體結構密切相關。X射線衍射（XRD）是對晶體結構進行分析最基本也是最重要的一個表征。通過XRD分析，我們可以得到材料的相結構、相成分、晶粒尺寸等信息。然而，最常用的多晶衍射法有著一些本征缺點，它得到的譜峰重疊嚴重，從而造成大量材料結構信息損失。
1967年，荷蘭晶體學家Hugo M. Rietveld提出了對中子衍射數據進行Rietveld全譜擬合的方法，克服了多晶衍射僅利用積分強度的不足，充分利用了譜圖的所有信息，可以獲得多晶材料的結構信息。后來，Rietveld方法也被用來對XRD數據進行分析，即是“XRD精修”。隨著算法的完善和應用的推廣，XRD精修已經成為修正晶體結構和獲得結構信息最重要的方法之一。
XRD演示圖
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